當(dāng)前位置：首頁 > 產(chǎn)品中心 > 粒子表面特性分析儀 > 美國xigo濕式比表面分析儀
美國xigo濕式比表面分析儀專門為測量納米顆粒在溶劑中的濕式比表面積而設(shè)計(jì)。與傳統(tǒng)的比表面積測量技術(shù)相比，核磁共振法（NMR）具有很多的優(yōu)點(diǎn)。整個測量過程從開始到結(jié)束僅需5分鐘，并且樣品無需稀釋，干燥以及其他任何樣品前處理。AcornAera可以為您節(jié)約 的實(shí)驗(yàn)時(shí)間。
地址：北京市昌平區(qū)西三旗建材城西路新龍大廈A座2010室
郵箱：cici.ding@insearch-tech.com
傳真：86-10-81706682
關(guān)于我們
公司簡介 榮譽(yù)資質(zhì) 在線咨詢 聯(lián)系我們新聞中心
公司新聞 技術(shù)文章 資料下載 成功案例產(chǎn)品中心
粒子表面特性分析儀
微信客服
微信公眾號
版權(quán)所有Copyright © 2025 儀思奇（北京）科技發(fā)展有限公司 All Right Reserved 備案號：京ICP備16057128號-2 sitemap.xml 技術(shù)支持：化工儀器網(wǎng) 管理登陸
歡迎訪問