全國顆粒表征與分檢及篩網標委會換屆暨六屆一次會議圓滿落幕

    全國顆粒表征與分檢及篩網標準化技術委員會（以下簡稱標委會）換屆暨六屆一次會議于2019年5月7-8日在江蘇常州順利召開。出席本次會議代表共60名，其中38為委員、12為受委員委托代表，占全體51名委員的98%。會議分別由主任委員王世剛，副主任委員白潛洋、李兆軍和張福根主持。楊正紅總經理代表儀思奇（北京）科技發展有限公司參加了本次會議，并作為標委會委員全程參與標準制修訂工作。

    會議聽取了所有在研標準進展情況的匯報，同意終止《顆粒沃德爾（Wadell）球形度的測量方法》（20141992-T-469）標準計劃；同意《分散體穩定性表征的指導原則》（20181022-T-469）標準計劃由12個月延至24個月的申請；其他16項標準應按時完成標準修訂工作。

    會議審查了《粒度分析 圖像分析法 第1部分：靜態圖像分析法》等五項國家標準立項建議，其中《《粒度分析 圖像分析法 第1部分：靜態圖像分析法》、《壓汞法和氣體吸附法測定固體材料孔徑分布和孔隙度 第1部分：壓汞法》、《zeta電位測量良好操作指南》和《塑料粒度的試驗方法 篩分法》等四項通過審查，建議立項；建議《動態光散射操作指導》采標提案跟進相應標準制修訂共作，待標準發布實施后再進行立項申請。

    會議要求全體委員按照規定和標委會章程積極努力工作，履行委員的責任和義務，發揮委員的作用，凝心聚力、同心同德，共同為我國的顆粒表征、分檢及篩網的標準化工作做出貢獻。