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納米粒度和Zeta電位分析儀測試范圍使用領域研究機制

更新時間：2017-04-19      點擊次數：1856
 　　納米粒度和Zeta電位分析儀測試范圍使用領域研究機制
　　
　　可測定顆粒在高濃度溶液中的zeta電位
　　
　　可測定固體zeta電位
　　
　　寬粒徑范圍(0.6nm~10μm)，寬濃度范圍(粒徑測試：0.00001%~40%，zeta電位測試：0.001%~40%)
　　
　　可測量稀釋或濃縮的懸浮液
　　
　　用戶友好的軟件
　　
　　多種樣品池選擇
　　
　　可選擇一次性樣品池
　　
　　結合線性相關器和對數相關器相結合的技術對各種樣品進行表征
　　
　　可選擇自動滴定裝置控制懸浮液PH值
　　
　　納米粒度和Zeta電位分析儀使用領域研究機制：
　　
　　半導體
　　
　　研究半導體晶體表面殘留雜質與磨蝕劑、添加劑和晶片表面之間的相互影響的凈化機制。
　　
　　醫藥和食品行業
　　
　　乳劑的分散和凝聚的模擬控制研究（如食品、香水、藥品和化妝品），蛋白質功能研究，核糖體分散和凝聚控制研究，表面活性劑功能研究（微囊）。
　　
　　陶瓷和顏料工業
　　
　　表面重整控制研究、分散和凝聚陶瓷（矽土、氧化鋁、二氧化鈦等）和無機溶膠的研究，顏料的分散和凝聚的控制研究，浮礦收集器的吸附研究。
　　
　　聚合物和化工領域
　　
　　乳劑(涂料和粘合劑)的分散和凝聚控制研究，乳膠表面重整控制（藥品和工業用途）。電解聚合物（聚苯乙烯磺酸鈉、多羧酸等）功能研究，控制造紙和生產紙漿過程研究，紙漿添加劑研究。

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